OPTICAL TESTING INSTRUMENTS DEFACTO STANDARD

チャート

テクスチャー・ロス

コントラストを抑えた正弦波Siemens starはテクスチャー・ロス、つまり低いコントラストの微細な細部の欠損を解析するのに極めて適しています。イメージングシステムのテクスチャーの損失はノイズ低減やその他の画像処理技術により発生します。

テクスチャー解析のための将来のISO規格195767-1は、低コントラストのSiemens starの使用する方法で成立しています。Image Engineering社の画像解析ソフトウェアiQ-Analyzer-Xの解像度モジュールは、新製品TE280 チャートを含み、Siemens starの解析をサポートしています。低コントラスト (18%変調) のSiemens starを使用して、正弦波Siemens starの周知の利点を享受できます。iQ-Analyzer-Xを利用した解析結果は、制限解像度 (MTF10)と先鋭度に加えて、全MTFを提供します。TE276は枯れ落ち葉構造と位置合わせと線形化のために必要な周辺のマーカーで構成され、テクスチャー解析の究極のソリューションです。
Image Engineering社は、これまで様々な出版物で、最新のアプローチである「枯れ落ち葉クロス」が、現在のところ、テクスチャー・ロスを表す最良のソリューションであることを示してきました。画質測定の多目的テストチャート
TE42にも同じ枯れ落ち葉構造と低コントラストSiemens starが利用されています。

主要なテクスチャー解析チャート

※チャート番号をクリックすると、IE社サイトの情報
 が表示されます。
※下記チャートは、画像解析ソフトウェア
iQ-Analyzer-X
 での解析が可能です。

TE276:枯れ落ち葉

TE280:テクスチャー・ロス テストチャート

▲TE280

▲TE276

動画による製品紹介

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・解像度およびテクスチャー・ロスの概要

更新日: 2022/07/12