OPTICAL TESTING INSTRUMENTS DEFACTO STANDARD

チャート

TE42//FORTY TWO

TE42は、多目的のテストチャートで、画素数が2から170メガピクセルの間のカメラに使用できます。一定の照明条件下でたった1枚の画像を撮影することによりカメラの画質性能の概略を得ることができます。解像度、テクスチャー再現、先鋭度、ダイナミックレンジ、ノイズ、色再現、歪曲収差、色収差と視覚等の分析を行うためのパターンで構成されています。これらの解析はiQ-Analyzerソフトウ ェアで自動的に解析されます。

主な特徴:

  • ダイナミックレンジは(反射式ターゲットの制限のため)10fストップま で測定が可能です。
  • 解像度は画像の中心と周辺で測定します。
  • 解像度解析のためSiemens starの周囲に強化リニアライゼーション
  • 将来のISO規格19567 テクスチャー規格をサポートする ローンラストのSiemens star
  • 画像に加えられたシャープニング解析のため様々なコントラストレベルの斜めエッジ
  • 歪曲収差はTV歪曲収差として測定
  • 色再現はColorChecker SGに対応する色で測定
  • テクスチャー解析を改善するため2つのコントラストレベルのカラー・ランダム・サークル・ストラクチャー(枯れ落ち葉)
  • 枯れ落ち葉と可視画像は中心から同じ半径距離位置に設置
  • iQ-AnalyzerによるTE042の解析結果例

    解像度解析

    シェーディング解析

    更新日: 2018/03/06