OPTICAL TESTING INSTRMENTS DEFACTO STANDARD

ImageMaster® Pro5 Wafer

ImageMaster® Pro5 Wafer

量産用全自動MTF測定装置

ImageMaster® Pro5 Wafer

Image Master Pro5 Waferは、高精度小型カメラレンズやウェハーレベルのカメラレンズを対象とした量産用全自動MTF測定装置です。Lens-on-Waferの全数MTF合否判定を行う仕様です。マーカを2台搭載しウェハ位置調整及びソフトにて全てのレンズ座標位置を簡単に作成し、(TrayGenerator)完全自動MTF測定と合否判定を行います。

新規にデジタルカメラを採用し9箇所のカメラ画像をより高速にて同時にLSF-FFT処理を行うことで高周波までのMTFを瞬時に測定します、従来のアナログカメラを使ったPro3/4シリーズではフレームの取込み数を増やすことで一個辺り4秒の測定時間を必要としていましたが、Pro5では一度の取込みにて軸上オートフォーカス時間を含め高周波(~250lp/mm)まで約1秒で測定します。

ImageMaster® PRO 5 Wafer measurement chamber

ImageMaster® PRO 5 Wafer measurement chamber

Application ;
EFL1...3, 3...6, 6...15mm
φ200mm Wafer Level Camera Optics
8-12 Mega Mobile Phone Camera Optics
Automobile High Resolution Camera Optics
etc


測定時間
測定時間 <1秒(Wafer Level Fix Focus)
測定時間 <1.5秒(On-Axis AF)
測定時間 <2秒(On/Off Axis 8 position AF

ImageMaster® Pro5 Wafer

Technical data

Technical data
製品カタログ日本語版
更新日: 2016/10/10